Grundservices

In früheren Zeiten wurden für Materialanalysen von Oberflächen vor Allem die Photo-Elektronen-Spektroskopie (XPS-Analyse) oder die Sekundär­ionen­massen­spektrometrie (TOF SIMS) eingesetzt. Bei Dünnschichtanalysen wurde auch häufig mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) und der Röntgenmikrobereichsanalytik (EDX) oder der Infrarot-Spektroskopie (IR/ATR) gearbeitet.

Alle diese Verfahren werden heutzutage durch die laserbasierte Materialanalyse ersetzt, die es erlaubt unter wesentlich einfacheren Laborbedingungen zu arbeiten und die Präparation fast vollständig unnötig macht. Besonders die Schnelligkeit und Genauigkeit des Verfahrens überzeugen.

Es mussten in der Vergangenheit für die Analytik einer Oberfläche weitere Verfahren additional eingesetzt werden, wenn neben der Oberfläche zudem die Materialbeschaffenheit unter einer oder mehreren Beschichtungen analysiert werden sollte.

Unsere Aufgabe ist die qualitative und quantitative Analyse von Reinstoffen, Legierungen, Erzen und Gemengen. Und dies an der Oberfläche und darunter. 

 

Monopoloffenlegung